无线充电设计有哪些常见的瓶颈？（无线充电）

当主要制造商竞相进入无线充电方案市场时，他们的芯片和线圈设计挑战不容忽视。下面小编就无线充电方案来解释一下无线充电设计中的一些常见瓶颈。无线充电设计中常见的问题来自五个因素，包括线圈距离、对齐、线圈尺寸、厚度和温度。 线圈距离:在所有参数完全相同的情况下，线圈距离确实是效率最重要的因素之一，但并不是越近越好。 对准:常见的对准方法有三种，包括机械、磁引力和传感，但现有的对准方法都有其缺点。 线圈尺寸:两个线圈之间的互感与线圈的面积成正比，所以增加线圈的面积可以有效增加互感磁通量，进而增加感应电动势。 厚度:当铁氧体达到饱和时，磁导率会迅速下降，当深度满时，磁导率接近空气。但实践后发现，在& mu在不变的前提下，提高弹性渗透率(&μ；')，降低粘性渗透率(&μ；")可以提高效率，而湿法烧结法在现有的工艺手段中仍难以突破。 温度:由于电路的限制，需要保持一定的R值(高频时的电气组成)。另外，铜线本身的长度和截面积会产生电阻，磁性材料也会有铁损。在实践中，线圈组经常会有温度。